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• 寿命测量范围是多少?
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• 最小可测的样品尺寸?
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• 硅棒和硅锭的体寿命是如何测量的?
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• 应该在什么载流子浓度报告寿命的结果?
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• 寿命测试仪可以检测铁杂质污染吗?
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• 仪器是如何校准的?
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• 生产中，应该在什么阶段测量硅片?
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• 测试仪可以测量陷阱捕捉效应 (trapping)吗?
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• 测试仪的分析结果是否包含Suns-Voc分析?
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