我们的测试系统使用涡旋电流方法。将一个传感器（内置于仪器样品台的线圈）置于晶硅样品附近并向晶硅发射电磁波。然后用光脉冲照射样品以产生过剩载流子，线圈电路能够感应到由过剩载流子引起的电导升高。测试系统分析这些数据并给出光脉冲期间以及结束之后的过剩载流子的寿命。