可以，针对如何测量无表面钝化的p型硅片，我们专门有一个应用说明。没有表面钝化时，寿命测量值非常低，因为光产生的载流子迅速扩散到表面并复合。然而，使用寿命测量值和与晶体质量相关的陷阱捕捉特性，仍旧可以确定硅片在大多数太阳能电池相关范围内的质量。