可
- 可以测量表面复合速度吗?
可以，在文献中，这些仪器是最常用的测量表面复合速度的仪器。购买设备时提供的应用说明中可以找到更多有关的细节。
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- 可以测量没有表面钟化的硅片吗(开箱不经过处理即测量)?
可以，针对如何测量无表面钝化的p型硅片，我们专门有一个应用说明。没有表面钝化时，寿命测量值非常低，因为光产生的载流子迅速扩散到表面并复合。然而，使用寿命测量值和与晶体质量相关的陷阱捕捉特性，仍旧可以确定硅片在大多数太阳能电池相关范围内的质量。
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- 可以用这些测试仪获取硅片的寿命分布图吗?
可以使用WCT-120，BCT-400，和BLS-I，手动获取较为粗略（厘米级）的分布图。
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