可
- 可以测量表面复合速度吗?
可以,在文献中,这些仪器是最常用的测量表面复合速度的仪器。购买设备时提供的应用说明中可以找到更多有关的细节。
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- 可以测量没有表面钟化的硅片吗(开箱不经过处理即测量)?
可以,针对如何测量无表面钝化的p型硅片,我们专门有一个应用说明。没有表面钝化时,寿命测量值非常低,因为光产生的载流子迅速扩散到表面并复合。然而,使用寿命测量值和与晶体质量相关的陷阱捕捉特性,仍旧可以确定硅片在大多数太阳能电池相关范围内的质量。
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- 可以用这些测试仪获取硅片的寿命分布图吗?
可以使用WCT-120,BCT-400,和BLS-I,手动获取较为粗略(厘米级)的分布图。
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