测
- 测试仪如何分析数据?
我们使用瞬态光电导技术，和我们在1994年开发的准稳态光电导（QSSPC）方法。对于精确测量载流子复合寿命，这些方法是业界公认的校准最仔细的技术。文献中有超过1000篇的学术论文讨论这些测试技术所采集和分析的数据。
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- 测试系统可以测量发射极饱和电流密度吗?
这是仪器的另一个常见的用途。购买设备时提供的应用说明中可以找到更多有关的细节。
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- 测试仪可以测量陷阱捕捉效应 (trapping)吗?
可以，每次测量中，我们会把一定光强范围内的光电导数据记录成光强度的函数。利用该函数数据中低载流子密度范围的寿命曲线形状，可以确定陷阱浓度，进而把由陷阱捕捉效应引起的光电导和自由电子-空穴对产生的电导分开。测试结果会相应地给出陷阱浓度和电子-空穴复合寿命。
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- 测试仪的分析结果是否包含Suns-Voc分析?
是的，我们提供的所有组件测试仪器都包含了最常用的Suns-Voc分析。这项技术由Sinton Instruments公司开发并商品化，从1995年开始就包含在我们的仪器中。
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- 测试仪随附了安装组件的装置吗?
测试仪不包含用于安装组件的装置；用户需自行安装、固定组件。Sinton Instruments公司乐意与您商讨组件安装相关的解决方案。
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- 测试仪能够测试的最大功率是多少?
标准测试仪可以测量功率500W的组件，最大15A的短路电流和最高120V的开路电压，但用户可以定制其他测试范围。
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