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• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 可以用这些测试仪获取硅片的寿命分布图吗?
  内容： 可以使用WCT-120，BCT-400，和BLS-I，手动获取较为粗略（厘米级）的分布图。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 这些测试技术与微波光电导衰减(PCD)技术有何不同?
  内容： 微波PCD主要用于生成高分辨率的分布图，反映样品的不均匀性和局部缺陷。而Sinton Instruments的寿命测试仪主要用来测量样品在不同载流子密度下的寿命和表面复合特性的校准结果（绝对值结果）。Sinton Instruments测试仪的测试结果都是经过校准的、有实际物理单位的绝对值结果，可以用于模拟和预测太阳电池的性能。这些结果还可以与使用不同技术、在不同的实验室或公司获取的校准的寿命测试结果直接比较。而微波PCD测试通常仅从仪器的原始数据给出曲线拟合的参数（微波反射信号的主要模式的寿命）。大多数情况下，微波PCD的结果都是相对值而非有实际物理单位的绝对值。某些特殊情况下可以将这些结果与校准的测试结果比较。然而通常微波PCD的测试结果都因信息不足而无法与任何其他寿命测试结果比较。一些先进的实验室会报告校准的微波PCD测试结果，但这种技术更常用于不校准的测试中。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 应该在什么载流子浓度报告寿命的结果?
  内容： 通常，为了传达更多信息，测试结果会给出所有测到的载流子密度下的寿命数据。对于单点测量，我们建议测试1E15 cm载流子密度处的寿命。过去15年所报告的大部分寿命数据都是该载流子密度的结果。其好处包括：与太阳电池的效率相关；寿命测试仪所测的这一点附近的数据有很好的的信噪比；对于各式各样的样品，该点大多数情况下都在所测的载流子密度范围内；可以用于确定Fe杂质污染情况；能有效地用于发射极饱和电流密度的测量或计算。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 寿命测试仪可以检测铁杂质污染吗?
  内容： 可以！我们有一个应用说明，解释如何使用寿命测试仪的数据来确定铁杂质污染。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 寿命测试仪可以检测铁杂质污染吗?
  内容： 可以！我们有一个应用说明，解释如何使用寿命测试仪的数据来确定铁杂质污染。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 生产中，应该在什么阶段测量硅片?
  内容： 可以对初始硅片进行测试，然后在磷扩散之后再次测试（来监控工艺流程前端的掺杂质量和硅片污染情况）。使用产线寿命测试仪也可以对氮化硅沉积工艺进行优化和监控。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 测试仪可以测量陷阱捕捉效应 (trapping)吗?
  内容： 可以，每次测量中，我们会把一定光强范围内的光电导数据记录成光强度的函数。利用该函数数据中低载流子密度范围的寿命曲线形状，可以确定陷阱浓度，进而把由陷阱捕捉效应引起的光电导和自由电子-空穴对产生的电导分开。测试结果会相应地给出陷阱浓度和电子-空穴复合寿命。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 测试仪的分析结果是否包含Suns-Voc分析?
  内容： 是的，我们提供的所有组件测试仪器都包含了最常用的Suns-Voc分析。这项技术由Sinton Instruments公司开发并商品化，从1995年开始就包含在我们的仪器中。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 组件测试仪的光源是A类光谱吗?
  内容： 组件测试仪的标准配置是C类光谱。用户可选配滤光设备使光源满足A类光谱的要求，然而Sinton Instruments公司建议使用C类光谱测试晶硅组件。 ...
• Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: Sinton闪光测试仪可以达到什么光照强度?
  内容： Sinton光源从1.2 suns衰减到0.2 suns，对于此范围内的任何光强，我们都可以构建I（V）曲线；然而，用户应当清楚，光谱在脉冲衰减过程中会有红移现象，现有的光谱是为1 sun的工作条件优化过的（在1 sun条件下使用效果最佳）。 ...

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