高级搜索

共有 67 个搜索结果

页4 来自第 7 页

Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 可以测量没有表面钟化的硅片吗(开箱不经过处理即测量)?
内容： 可以，针对如何测量无表面钝化的p型硅片，我们专门有一个应用说明。没有表面钝化时，寿命测量值非常低，因为光产生的载流子迅速扩散到表面并复合。然而，使用寿命测量值和与晶体质量相关的陷阱捕捉特性，仍旧可以确定硅片在大多数太阳能电池相关范围内的质量。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 可以用这些测试仪获取硅片的寿命分布图吗?
内容： 可以使用WCT-120，BCT-400，和BLS-I，手动获取较为粗略（厘米级）的分布图。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 这些测试技术与微波光电导衰减(PCD)技术有何不同?
内容： 微波PCD主要用于生成高分辨率的分布图，反映样品的不均匀性和局部缺陷。而Sinton Instruments的寿命测试仪主要用来测量样品在不同载流子密度下的寿命和表面复合特性的校准结果（绝对值结果）。Sinton Instruments测试仪的测试结果都是经过校准的、有实际物理单位的绝对值结果，可以用于模拟和预测太阳电池的性能。这些结果还可以与使用不同技术、在不同的实验室或公司获取的校准的寿命测试结果直接比较。而微波PCD测试通常仅从仪器的原始数据给出曲线拟合的参数（微波反射信号的主要模式的寿命）。大多数情况下，微波PCD的结果都是相对值而非有实际物理单位的绝对值。某些特殊情况下可以将这些结果与校准的测试结果比较。然而通常微波PCD的测试结果都因信息不足而无法与任何其他寿命测试结果比较。一些先进的实验室会报告校准的微波PCD测试结果，但这种技术更常用于不校准的测试中。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 寿命测量范围是多少?
内容： 寿命0.1到20,000微秒的表面钝化的硅片。寿命0.1到10,000微秒的无表面钝化的硅锭。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 最小可测的样品尺寸?
内容： 使用设备的默认出厂校准模式，可以测量直径（大于）4 cm的样品。用户可以为测量小尺寸样品对仪器重新校准。我们建议最小可测量1平方厘米的样品。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 硅棒和硅锭的体寿命是如何测量的?
内容： 利用红外光激发作用。红外光可以在硅棒深处产生过剩载流子，100到1000微米的深度范围都有显著的光生载流子。这些载流子相对远离表面，可以很好的反映材料的体寿命。对于常用于太阳电池的p型材料，我们专门做了一项修正表面复合效应以报告真实体寿命的分析。对于寿命较高的样品，无论是p型还是n型，我们都使用瞬态方法进行测试，靠近表面的载流子会在测试初始阶段迅速在表面复合，越处于衰减后期的数据越逼近真实体寿命。该测试所给出的寿命结果是过剩载流子密度的函数。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 应该在什么载流子浓度报告寿命的结果?
内容： 通常，为了传达更多信息，测试结果会给出所有测到的载流子密度下的寿命数据。对于单点测量，我们建议测试1E15 cm载流子密度处的寿命。过去15年所报告的大部分寿命数据都是该载流子密度的结果。其好处包括：与太阳电池的效率相关；寿命测试仪所测的这一点附近的数据有很好的的信噪比；对于各式各样的样品，该点大多数情况下都在所测的载流子密度范围内；可以用于确定Fe杂质污染情况；能有效地用于发射极饱和电流密度的测量或计算。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 寿命测试仪可以检测铁杂质污染吗?
内容： 可以！我们有一个应用说明，解释如何使用寿命测试仪的数据来确定铁杂质污染。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 寿命测试仪可以检测铁杂质污染吗?
内容： 可以！我们有一个应用说明，解释如何使用寿命测试仪的数据来确定铁杂质污染。 ...
Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 仪器是如何校准的?
内容： 为了获取电导的绝对值结果，使用四探针法的测试结果对仪器的电导传感器进行校准。瞬态模式测试仅需要此项校准。光强传感器的校准有几种方法。第一种是对比QSSPC和瞬态模式的测试结果，依此校准QSSPC测试中的光强。另一种办法是使用已知强度的光源对参比电池进行校准。我们在工厂校准中使用后一种方法。 ...

高级搜索

热门搜索：