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  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 生产中,应该在什么阶段测量硅片?
    内容: 可以对初始硅片进行测试,然后在磷扩散之后再次测试(来监控工艺流程前端的掺杂质量和硅片污染情况)。使用产线寿命测试仪也可以对氮化硅沉积工艺进行优化和监控。 ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 测试仪可以测量陷阱捕捉效应 (trapping)吗?
    内容: 可以,每次测量中,我们会把一定光强范围内的光电导数据记录成光强度的函数。利用该函数数据中低载流子密度范围的寿命曲线形状,可以确定陷阱浓度,进而把由陷阱捕捉效应引起的光电导和自由电子-空穴对产生的电导分开。测试结果会相应地给出陷阱浓度和电子-空穴复合寿命。 ...
  • 光伏专用电化学ECV FAQ: ECV耗材和型号
    内容: ...
  • 光伏专用电化学ECV FAQ: 两个密封圈的孔大小不一致,对结果有影响吗?
    内容: 光伏晶硅客户建议用大的密封圈 ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 测试仪的分析结果是否包含Suns-Voc分析?
    内容: 是的,我们提供的所有组件测试仪器都包含了最常用的Suns-Voc分析。这项技术由Sinton Instruments公司开发并商品化,从1995年开始就包含在我们的仪器中。 ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 组件测试仪的光源是A类光谱吗?
    内容: 组件测试仪的标准配置是C类光谱。用户可选配滤光设备使光源满足A类光谱的要求,然而Sinton Instruments公司建议使用C类光谱测试晶硅组件。 ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 为什么使用C类光谱的光源?
    内容: 光谱等级并不与测量精度直接相关联,所以仅凭使用特定类别的光谱并不能保证测试数据更好(例如,参见Herrmann等在2007年第22届EU PVSEC会议记录中发表的“Advanced Intercomparison Testing of Testing of PV Modules in European Test Laboratories”)。我们标配的未经滤光的C类光谱光源功率要求低、成本低,在总体上来说是更环保、更便捷、并且不会影响测试精度的解决方案。 ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: Sinton闪光测试仪可以达到什么光照强度?
    内容: Sinton光源从1.2 suns衰减到0.2 suns,对于此范围内的任何光强,我们都可以构建I(V)曲线;然而,用户应当清楚,光谱在脉冲衰减过程中会有红移现象,现有的光谱是为1 sun的工作条件优化过的(在1 sun条件下使用效果最佳)。 ...
  • 光伏专用电化学ECV FAQ: ECV 配件耗材使用寿命
    内容: ...
  • Sinton Instruments少子寿命测试仪部分FAQ: 仪器的测试通量/吞吐量是多少?
    内容: 标准配置的FMT-500能够每秒钟闪光一次。用于高通量测试时,建议将测试仪配置成五次闪光模式,以精确测量Voc、Jsc和Vmp,总测试时间不超过7秒。 ...

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